日本制造的阻抗分析仪日置IM3570 HIOKI3570
HIOKI开始在七月中旬的IM3570阻抗分析仪，IM357阻抗分析器进行LCR，DCR和扫描测量。
此外，相比于LCR测试仪以前HIOKI，IM357阻抗分析器大大减少测量时间，并进一步提高测量的精确度。
其中一个IM357阻抗分析仪的可满足的不同测试条件的高速检查
的IM357阻抗分析仪阻抗分析仪的开发背景
IM357阻抗分析仪，一个线圈，一个电容，检查和电子元件，如压电元件，将在大学和公司的研究部门的开发中。
什么是阻抗分析仪IM3570阻抗分析仪？
主要同时改变测量频率和所述测量电压连续，并用于通过扫描对象的特征来测量阻抗分析仪进行测量。
线圈，可以使用变压器，电容器，用于诸如压电元件。
因此，阻抗分析仪，将被说成是一个不可缺少的测量设备的电子部件市场，这是在恢复阶段。
※阻抗：多大程度上电流不容易流动到AC电路。
单位是。
新IM3570阻抗分析仪的特点
一套用于在不同测量条件下进行高速测量
当测量部件，如电容器，可以在几个测量元件在不同的条件（频率，电平）下测量，需要在生产线中的多个测量装置。
IM3570可以运行在各种测量条件高速连续测量，该装置能够满足所有要求。
检查速度加倍（相对于以前的模型）
在与前一HIOKI模型（3532-50）比较，测量时间已大为缩短。
在LCR模式，在传统的模型通常是测量时间为5毫秒被需要，IM3570的检查速度增加了一倍。
IM3570是，起着生产线，需要电子部件的全面检查中起重要作用。
再现性的测量的一个位改善（* 1M，100个测量）
官能聚合物电容器，在低的ESR进行，需要的个数m精确测量。
在测量低阻抗精度IM3570，已经变得比以前的型号略高。这允许用户执行稳定的测量。
广泛的测量频率
IM3570是，可以设置5个比特的分辨率带宽中的DC范围和4Hz？5赫兹（0千赫？1千赫）。
分辨率为01 Hz）
测量和评估可以在接近谐振频率的测量和操作条件的状态下进行。
15个测量参数
为了测量15个参数，如Z和Y，你可以阅读计算机所需的参数。
具有接触检查功能，可防止故障。
4配备有所述终端测量和两个端子测量的接触检查功能。
因为当测量电极不与所述对象接触到被测量，以避免测定时，还没有被验证的产品，我们能够避免被从工厂发货。
测量宽电压/电流范围
除了常见的开路信号，电压/电流相关的测量可以在一个恒定的电压/恒定的电流模式来执行。
为5mV宽范围的信号电平？5V / 10A？50毫安（？1MHz的）的下面可以设置。
8
测试线可以延长到4米。
4终端结构是减少测试导线的作用，以确保在最大4根的测试引线精度。
这样可以更轻松地连接自动化设备。
IM 3570阻抗分析仪的主要参数